Los avances en la tecnología de procesos de fabricación son conjuntos clave para la producción de circuitos integrados en la región submicrométrica. Es de suma importancia evaluar los efectos de las tolerancias en el proceso de fabricación en el rendimiento de los circuitos integrados modernos. La expansión del caos polinómico ha surgido como una alternativa adecuada a los métodos estándar basados en Monte Carlo que son precisos, pero computacionalmente pesados. Este documento proporciona una visión general de los desarrollos y desafíos más recientes en la aplicación de técnicas basadas en el caos polinómico para la cuantificación de la incertidumbre en circuitos integrados, con un enfoque particular en problemas de alta dimensionalidad.