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Un metodología para analizar la tolerancia a fallos de los métodos de desentrelazado frente a interrupciones funcionales de eventos únicos de memoria (SEFIs)

Autores: Aranda, Luis Alberto; Sánchez-Macián, Alfonso; Maestro, Juan Antonio

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2020

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Acceso abierto

Artículo científico
2020

Un metodología para analizar la tolerancia a fallos de los métodos de desentrelazado frente a interrupciones funcionales de eventos únicos de memoria (SEFIs)


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Circuitos electrónicos
Entornos hostiles
Errores suaves
Radiación
SEFI
Algoritmos de interpolación

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 23

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Los circuitos electrónicos en entornos hostiles, como el espacio, se ven afectados por errores suaves producidos por la radiación. Un evento único de interrupción funcional (SEFI) puede afectar el comportamiento de un chip de memoria, con una o más filas, columnas o incluso todo el dispositivo produciendo un valor incorrecto al leer un conjunto de bits almacenados. Este problema puede afectar a las imágenes Bayer crudas almacenadas en satélites y otras naves espaciales. En este documento, presentamos una metodología para analizar cómo se comportan diferentes algoritmos de interpolación al intentar reconstruir las imágenes Bayer afectadas en imágenes estándar de rojo, verde y azul (RGB). Esta metodología puede utilizarse para comparar y desarrollar nuevos algoritmos tolerantes a fallos. La metodología propuesta ha sido ilustrada mediante el estudio de un subconjunto de algoritmos de interpolación. Los resultados obtenidos de este ejemplo muestran que los algoritmos de interpolación que tradicionalmente ofrecen mejores resultados en una operación normal (en ausencia de errores) no siempre son los mejores cuando hay errores SEFI presentes en las imágenes Bayer.

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