Método de medición de diferencia de fase basado en desplazamiento progresivo de fase
Autores: Zhang, Min; Wang, Hai; Qin, Hongbo; Zhao, Wei; Liu, Yan
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2018
Acceso abierto
Artículo científico
2018
Método de medición de diferencia de fase basado en desplazamiento progresivo de fase
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Método propuesto
Medición de diferencia de fase
Desplazamiento de fase progresivo
Chip FPGA
Línea de retardo programable
Resolución
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 25
Citaciones: Sin citaciones
Este documento propone un método para la medición de la diferencia de fase basado en el principio de cambio progresivo de fase (PPS). Se propone y prueba un sistema de medición de diferencia de fase basado en PPS e implementado en el chip FPGA. En el sistema realizado, se construye una línea de retardo totalmente programable (PDL), que proporciona un retardo preciso y estable, beneficiándose de la estructura de retroalimentación del módulo de control. El módulo de control calibra el retardo de acuerdo con las variaciones de proceso, voltaje y temperatura (PVT). Además, se incorpora un método modificado basado en doble PPS para mejorar la resolución. La resolución obtenida es de 25 ps. Además, para mejorar la resolución, el método propuesto se implementa en la plataforma Xilinx Kintex Ultrascale de 20 nm, y los resultados de las pruebas indican que el error de medición obtenido y el error de sincronización de reloj están dentro del rango de +/-5 ps.
Descripción
Este documento propone un método para la medición de la diferencia de fase basado en el principio de cambio progresivo de fase (PPS). Se propone y prueba un sistema de medición de diferencia de fase basado en PPS e implementado en el chip FPGA. En el sistema realizado, se construye una línea de retardo totalmente programable (PDL), que proporciona un retardo preciso y estable, beneficiándose de la estructura de retroalimentación del módulo de control. El módulo de control calibra el retardo de acuerdo con las variaciones de proceso, voltaje y temperatura (PVT). Además, se incorpora un método modificado basado en doble PPS para mejorar la resolución. La resolución obtenida es de 25 ps. Además, para mejorar la resolución, el método propuesto se implementa en la plataforma Xilinx Kintex Ultrascale de 20 nm, y los resultados de las pruebas indican que el error de medición obtenido y el error de sincronización de reloj están dentro del rango de +/-5 ps.