Para reducir las fallas de energía causadas por defectos en los sellos de plomo, es necesario llevar a cabo pruebas no destructivas de los sellos de plomo de los cables. Sin embargo, estudios previos se han centrado en la detección de defectos superficiales y cercanos a la superficie de los sellos de plomo. Por lo tanto, se introduce un método mejorado de detección de corriente de Foucault pulsada (IPECD) para detectar los defectos profundos de los sellos de plomo de los cables (con profundidades que van de 6 a 12 mm), y se explica en detalle el principio de selección del rango de frecuencia y el método de optimización de los ángulos de fase iniciales de los diferentes componentes de frecuencia de IPECD, utilizados para maximizar el valor pico de la señal de excitación. Luego, se comparan y analizan las sensibilidades de detección de los defectos profundos antes y después de la optimización basada en una simulación. Finalmente, mediante el método IPECD, se realizan experimentos para estudiar los efectos de la profundidad del defecto en las características del punto de intersección y el tiempo de cruce por cero, mejorando la base para la predicción o detección rápida de la profundidad de los defectos en los sellos de plomo.