La tecnología del convertidor analógico-digital entrelazado en el tiempo (TI-ADC) puede aumentar la frecuencia de muestreo sin cambiar la resolución. Sin embargo, el rendimiento dinámico del sistema TI-ADC se ve seriamente deteriorado por desajustes en los canales. Bajo la condición de un ancho de banda grande, el desajuste de ganancia y el desajuste de temporización varían con la frecuencia, lo que no puede considerarse como valores fijos. Para mejorar el rendimiento dinámico del sistema TI-ADC, se propone en este artículo un método de calibración automática de desajustes en los canales para un sistema TI-ADC de banda ancha. Los desajustes en los canales dependientes de la frecuencia se estiman mediante el algoritmo basado en ajuste de seno, y se compensan mediante medios basados en reconstrucción perfecta. Todo el proceso de muestreo y cálculo es automatizado y se simplifica la operación tediosa. Se implementa un sistema TI-ADC de banda ancha de 6.8 GS/s y 12 bits. Este sistema de muestreo puede lograr una relación SNDR (relación señal-ruido y distorsión) por encima de 49 dB y un SFDR (rango dinámico libre de espurias) por encima de 57 dB para una señal de entrada de 100 MHz a 3300 MHz. El método de calibración propuesto mejora el SNDR en más de 10 dB y el SFDR en más de 15 dB. El rendimiento dinámico del sistema de muestreo es cercano al de su sub-ADC.