La técnica de espectroscopía de dominio temporal de terahercios (THz-TDS) nos permite determinar simultáneamente las partes real e imaginaria de los parámetros ópticos. Sin embargo, sigue siendo un desafío extraer con precisión y flexibilidad los parámetros ópticos de un material bidimensional (2D) (o una película ultrafina) en un sustrato para un ángulo de incidencia arbitrario y diferentes polarizaciones. Al tratar un material 2D como un límite conductor sin espesor, proponemos un modelo teórico mejorado para extraer la conductividad óptica del material 2D en un sustrato a partir de la espectroscopía de transmisión o reflexión de THz. Importante, en nuestro modelo se consideran los efectos de la polarización de onda, el ángulo de incidencia y las múltiples reflexiones en el sustrato, y se proporcionan las fórmulas analíticas asociadas con la conductividad óptica del material 2D. Además, verificamos la validación de nuestro modelo basado en los experimentos de transmisión y reflexión de THz para MoS de una y unas pocas capas en sustratos de zafiro. Estos resultados no solo son de importancia práctica para investigar las propiedades de THz de materiales 2D, sino que también pueden extenderse a situaciones de películas ultrafinas y/o detección incoherente como la espectroscopía infrarroja de transformada de Fourier.