Yolo-SSW: un método mejorado de detección para defectos en la superficie de placas de circuito impreso
Autores: Yuan, Tizheng; Jiao, Zhengkuo; Diao, Naizhe
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2025
Acceso abierto
Artículo científico
2025
Yolo-SSW: un método mejorado de detección para defectos en la superficie de placas de circuito impreso
Categoría
Matemáticas
Subcategoría
Matemáticas generales
Palabras clave
¡Propone
Yolo-spd-simam-wiou
Defectos pequeños en PCB
Capa de características de alta resolución
Convolución no estratificada
Wise-iou.
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 36
Citaciones: Sin citaciones
Reconocer con precisión pequeños defectos en placas de circuito impreso (PCB) sigue siendo un desafío significativo debido a la abundancia de objetivos pequeños y texturas de fondo complejas.
Descripción
Reconocer con precisión pequeños defectos en placas de circuito impreso (PCB) sigue siendo un desafío significativo debido a la abundancia de objetivos pequeños y texturas de fondo complejas.