Aplicación de pruebas diversas para mejorar el rendimiento y la calidad de las pruebas de circuitos integrados
Autores: Yeh, Chung-Huang; Chen, Shou-Rong; Liao, Kan-Hsiang
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Aplicación de pruebas diversas para mejorar el rendimiento y la calidad de las pruebas de circuitos integrados
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería General
Palabras clave
Modelo de pruebas de circuitos integrados digitales
Curva de rendimiento de pruebas
Margen de seguridad de pruebas
Líneas de producción de semiconductores
Escasez de chips
Industria de fabricación de semiconductores
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 33
Citaciones: Sin citaciones
Este documento propone un modelo de prueba de circuitos integrados digitales para calcular la curva de rendimiento de prueba de futuras obleas y explorar la influencia del margen de protección de prueba (TGB) en la calidad y el rendimiento.
Descripción
Este documento propone un modelo de prueba de circuitos integrados digitales para calcular la curva de rendimiento de prueba de futuras obleas y explorar la influencia del margen de protección de prueba (TGB) en la calidad y el rendimiento.