Método de segmentación de instancias basado en Mask R-CNN mejorado para los componentes electrónicos apilados
Autores: Yang, Zhixian; Dong, Ruixia; Xu, Hao; Gu, Jinan
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Método de segmentación de instancias basado en Mask R-CNN mejorado para los componentes electrónicos apilados
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Métodos de detección de objetos
Aprendizaje profundo
Segmentación de instancias
Algoritmo Mask R-CNN
Componentes electrónicos
Conjunto de datos
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 36
Citaciones: Sin citaciones
Los métodos de detección de objetos basados en aprendizaje profundo juegan un papel importante en lograr la automatización de máquinas.
Descripción
Los métodos de detección de objetos basados en aprendizaje profundo juegan un papel importante en lograr la automatización de máquinas.