Los planes de prueba óptimos de defectos por unidad basados en las razones de probabilidades posteriores se desarrollan para la disposición de lotes de productos. El número de no conformidades por unidad está modelado por la distribución de Conway-Maxwell-Poisson en lugar del modelo Poisson típico. En esencia, un lote presentado es conforme si su aceptabilidad posterior es suficientemente grande. Primero, se deriva una útil aproximación del plan de prueba óptimo en forma cerrada utilizando la normalidad asintótica de la razón logarítmica. Luego se resuelve un problema de programación no lineal entera mixta a través de simulación de Monte Carlo para encontrar el menor número de elementos inspeccionados por lote y la máxima razón de probabilidades posterior tolerable. La metodología se aplica a la fabricación de papel y vidrio. El plan de muestreo sugerido para la sentencia de lotes proporciona las protecciones especificadas tanto a los fabricantes como a los clientes y minimiza el tamaño de muestra necesario. En términos de esfuerzo de inspección y precisión, el enfoque propuesto es prácticamente una extensión ventajosa de la perspectiva frecuentista clásica. En muchos casos prácticos, proporciona evaluaciones más precisas de los riesgos actuales para el consumidor y el productor, así como reglas de decisión más realistas.