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Mejora de la modelización hacia adelante del EEG utilizando modelos de cabeza BEM-FMM de cinco capas de alta resolución: efecto en la precisión de la reconstrucción de fuentes

Autores: Nuñez Ponasso, Guillermo; Wartman, William A.; McSweeney, Ryan C.; Lai, Peiyao; Haueisen, Jens; Maess, Burkhard; Knösche, Thomas R.; Weise, Konstantin; Noetscher, Gregory M.; Raij, Tommi; Makaroff, Sergey N.

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Mejora de la modelización hacia adelante del EEG utilizando modelos de cabeza BEM-FMM de cinco capas de alta resolución: efecto en la precisión de la reconstrucción de fuentes


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Bioingeniería

Palabras clave

Localización de la fuente
Datos de EEG
Complejidad del modelo
BEM-FMM
Refinamiento de malla adaptativa
Errores de localización

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 35

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
La localización de fuentes electroencefalográficas (EEG) es una herramienta fundamental para diagnósticos clínicos e interfaces cerebro-computadora.

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