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Algoritmo de desenrollado de fase de código de gris ternario mejorado para medición 3D utilizando una técnica de desenfoque binario

Autores: Yang, Xu; Lin, Houxing; Luo, Jie; Chen, Lei; Lei, Yu

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2021

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Acceso abierto

Artículo científico
2021

Algoritmo de desenrollado de fase de código de gris ternario mejorado para medición 3D utilizando una técnica de desenfoque binario


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Patrones binarios
Técnicas de desenfoque
Medición de formas 3D
Método de código Gray ternario
Modulación 2D
Velocidad de medición

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 28

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Al utilizar patrones binarios de un bit en lugar de sinusoidales de ocho bits, las técnicas binarias de desenfoque se han aplicado ampliamente para la medición de formas 3D de alta velocidad. Dado que se requiere el desenfoque del proyector, el proceso de desenrollado de fase de estas técnicas sigue siendo desafiante. Un método de código Gray ternario propuesto recientemente puede aumentar efectivamente la velocidad de medición al reducir el número de patrones de codificación adquiridos. Sin embargo, todavía tiene limitaciones, incluido el rango de medición y un problema de ruido. Para mejorar esto, se propone un nuevo método de código Gray ternario utilizando modulación 2D en lugar de la modulación 1D utilizada en el método convencional. Se realizaron simulaciones para comparar estos dos métodos, y los resultados verifican que el método propuesto reduce la varianza en el valor de gris intermedio introducido en casi un 90%. También se realizaron experimentos con resultados que verifican la superioridad del método propuesto.

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