Las películas delgadas conductoras son un componente esencial de muchos dispositivos electrónicos. Medir su conductividad de manera precisa es necesario para el control de calidad y monitoreo del proceso. Comparamos las mediciones de conductividad en películas para electrónica flexible utilizando tres técnicas diferentes: sonda de cuatro puntas, resonador de microondas y espectroscopía de dominio temporal de terahercios. Se examinaron múltiples muestras, facilitando la comparación de las tres técnicas. Se obtuvieron valores de resistencia de lámina en frecuencias de corriente continua, microondas y terahercios y se encontró que estaban en estrecho acuerdo.