En los últimos años, las unidades de estado sólido (SSD) basadas en NAND Flash se han vuelto más ampliamente utilizadas en centros de datos y mercados de consumo. Los centros de datos suelen optar por ofrecer servicios de almacenamiento de alta calidad desplegando un gran número de SSD, pero actualmente no existen medidas preventivas efectivas para reducir el impacto de las fallas de los SSD. Algunos estudios existentes han analizado los factores relevantes relacionados con las fallas de los SSD desde diferentes ángulos, pero las características de los cambios de fiabilidad exhibidos por los SSD a lo largo del ciclo de vida no han sido exploradas en profundidad. Por otro lado, aunque el proceso de fabricación en 3D ha aumentado la densidad de almacenamiento de los SSD, la influencia mutua entre las unidades flash también ha aumentado, lo que resulta en una degradación severa del rendimiento y la vida útil del SSD. Por lo tanto, para comprender completamente el proceso variable de fiabilidad de los SSD a lo largo del ciclo de vida, primero diseñamos un método de prueba de resistencia a la vida útil de los SSD, luego realizamos la prueba de resistencia y recopilamos los datos de fiabilidad para todo el ciclo de vida del SSD TLC 3D en un entorno de laboratorio con referencia al estándar JEDEC. A través del análisis de los datos experimentales y su correlación estadística, se descubre que el SSD producirá una gran cantidad de errores no corregibles antes de alcanzar el límite de resistencia, y habrá un fenómeno de temperatura de funcionamiento continuamente alta, mostrando algunas relaciones intrínsecas sobre los datos de fiabilidad de los SSD. Los hallazgos en este documento son valiosos para identificar si un SSD está a punto de fallar.