Los métodos resonantes son conocidos por su precisión en la determinación de la permitividad compleja de los materiales. Sin embargo, para garantizar la precisión, los modos de interferencia deben ser suprimidos en la banda de medición. En este artículo, se diseña y fabrica una cavidad rectangular dividida de múltiples modos para medir materiales dieléctricos anisotrópicos de baja pérdida en el rango de frecuencia de 300 a 1000 MHz. Se presentan detalles del diseño de la cavidad. Los resultados de simulación para un material uniaxialmente anisotrópico validan tanto la configuración como el procesamiento. Además, las mediciones de validación en una lámina de politetrafluoroetileno (PTFE) están en acuerdo con los datos de la literatura, lo que indica que el método propuesto en este artículo es confiable y preciso para la caracterización de la permitividad compleja de baja pérdida en cientos de megahercios.