Aunque la irradiación láser y la implantoplastia (IP) son ambas opciones de tratamiento para la periimplantitis, aún no se han combinado estos dos tratamientos en estudios. El objetivo de este estudio fue identificar el efecto de un láser Er, Cr: YSGG en la superficie de IP. En el experimento 1, se trataron implantes con superficie anodizada TiUnite con un láser Er, Cr: YSGG a 0.5 a 2 W en la configuración de energía del panel y 20 Hz bajo irrigación con agua. En el experimento 2, todas las superficies de los implantes se trataron primero con el procedimiento de IP, y luego se irradiaron con el láser Er, Cr: YSGG. Todas las muestras fueron analizadas mediante estereomicroscopía, microscopía electrónica de barrido (SEM), espectroscopia de rayos X por dispersión de energía (EDS) y topografía de superficie. La estereomicroscopía y la SEM no revelaron cambios superficiales evidentes en ninguna configuración de energía una vez que la superficie fue pulida con el procedimiento de IP, mientras que se causó daño a la superficie original del implante TiUnite cuando la energía del panel del láser Er, Cr: YSGG se configuró en 1 W o más. La EDS no mostró diferencias significativas en la composición de elementos una vez que la superficie fue pulida con el procedimiento de IP, mientras que se detectó un cambio composicional cuando la energía del panel del láser Er, Cr: YSGG se configuró en 0.5 W o más para irradiar la superficie original de TiUnite. La rugosidad de la superficie puede estar relacionada con la energía de irradiación láser, pero no ocurrieron cambios significativos tras la IP. Estos resultados indicaron que el láser Er, Cr: YSGG puede tener poco efecto en la superficie posterior a la IP en comparación con la superficie virgen de TiUnite.