Lograr un muestreo coherente siempre ha sido un desafío importante en las pruebas espectrales de convertidores analógico-digitales (ADC). Si no se puede cumplir con la condición de muestreo coherente, aparece fuga en el espectro, lo que resulta en parámetros inexactos. El método de ventaneo se utiliza ampliamente para procesar datos de ADC y eliminar la fuga. Sin embargo, este método requiere conocimiento previo sobre el tipo de ventana, y algunas ventanas comúnmente utilizadas no pueden proporcionar resultados precisos para un ADC de alta precisión. En este documento, se presentan algunos principios generales para optimizar la ventana de suma de cosenos y algunas ventanas con máxima disminución de lóbulo lateral. También se propone un método de prueba para eliminar la fuga causada por un muestreo no coherente. El método propuesto puede evaluar con precisión los parámetros dinámicos de un ADC con no coherencia arbitraria. Varios resultados de simulación y datos de medición demuestran la funcionalidad y robustez del método propuesto. Este método propuesto relaja significativamente la condición de muestreo coherente y disminuye el costo de la prueba.