Los dispositivos inerciales de sistema microelectromecánico (MEMS) son de pequeño volumen, livianos, de bajo costo y tienen características de producción en masa. La tendencia de desarrollo de módulos inerciales es reducir costos y mejorar la precisión, y la calibración en lotes de dispositivos MEMS es una de las soluciones más factibles para reducir costos. En este estudio, la relación entre los parámetros de error y el error de navegación fue reescrita utilizando una transformación de equivalencia, y los 24 parámetros de error del dispositivo fueron identificados mediante la estimación distribuida de mínimos cuadrados utilizando el error de velocidad como la cantidad observada. En experimentos de simulación, este método podría calibrar más dispositivos MEMS simultáneamente que el método de calibración tradicional con el requisito exacto de precisión.