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Investigación sobre el progreso en la mejora de la degradación para transistores de alta movilidad electrónica basados en GaN

Autores: Tian, Zhiwen; Ji, Xuan; Yang, Dongwei; Liu, Pei

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Investigación sobre el progreso en la mejora de la degradación para transistores de alta movilidad electrónica basados en GaN


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Características de ruptura
Dispositivos GaN
Mecanismos de ruptura
Placa de campo
Sistemas electrónicos de potencia
Canales de AlGaN

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 29

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Las características de desglose son muy importantes para los transistores de alta movilidad de electrones de GaN (HEMTs), las cuales afectan el voltaje de aplicación, la densidad de potencia, la eficiencia, etc. Con el fin de mejorar aún más el voltaje de desglose del dispositivo, es necesario llevar a cabo investigaciones sobre los mecanismos de desglose del dispositivo. Este artículo resume varios mecanismos de desglose de dispositivos de GaN, incluyendo la concentración de campo eléctrico, la corriente de fuga del buffer, la corriente de fuga de la compuerta y el desglose vertical. Para suprimir los mecanismos de desglose, se pueden desarrollar técnicas como el uso de una placa de campo, campo de superficie reducido (RESURF), barrera posterior, dieléctrico de compuerta, eliminación de sustrato y adición de canales de AlGaN. Con el continuo desarrollo de diversas tecnologías, las características de desglose de los dispositivos de GaN pueden ser plenamente exploradas, sentando las bases para mejorar el rendimiento de los sistemas electrónicos de potencia.

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