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Investigación de contactos eléctricos a p-Grid en dispositivos de potencia de SiC basada en el efecto de almacenamiento de carga y degradación dinámica

Autores: Zhang, Meng; Li, Baikui; Hua, Mengyuan; Wei, Jin

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2020

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Acceso abierto

Artículo científico
2020

Investigación de contactos eléctricos a p-Grid en dispositivos de potencia de SiC basada en el efecto de almacenamiento de carga y degradación dinámica


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Dispositivos de potencia
P-rejilla
Contacto
Schottky
Ohmico
Tecnología

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 25

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
El p-grid es una característica típica en dispositivos de potencia para bloquear altas tensiones en estado de apagado. En dispositivos de potencia, el p-grid está rutinariamente acoplado a un electrodo externo con un contacto óhmico, pero también se propone/adopta un contacto Schottky al p-grid para ciertos propósitos. Este trabajo investiga el papel del contacto al p-grid en dispositivos de potencia basados en simulaciones de dispositivos de diseño asistido por computadora (TCAD) tecnología comúnmente adoptada, con el diodo de barrera Schottky de unión de carburo de silicio (SiC) como caso de estudio. Las características estáticas del diodo JBS son independientes de la naturaleza del contacto al p-grid, incluyendo la caída de voltaje directo (Vf) y la tensión de ruptura (Vbr). Sin embargo, durante el proceso de conmutación, un contacto Schottky causaría almacenamiento de cargas negativas en el p-grid, lo que conlleva a un aumento de la corriente de fuga durante la operación de conmutación. Por el contrario, un contacto óhmico proporciona un camino efectivo de descarga para las cargas negativas almacenadas en el p-grid, lo que elimina los problemas de degradación dinámica. Por lo tanto, se aclara la necesidad de un contacto óhmico al p-grid en dispositivos de potencia.

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