Un dispositivo que realiza su función prevista solo una vez se denomina dispositivo de un solo disparo. Las expectativas reales de vida de este tipo de dispositivos durante las pruebas no pueden observarse y están censuradas a la izquierda o a la derecha. Además, los dispositivos de un solo disparo a menudo constan de múltiples componentes que podrían causar la falla del dispositivo. Los componentes están acoplados en el proceso de fabricación o ensamblaje, lo que resulta en que los modos de falla posean heterogeneidad y dependencia latentes. En este documento, desarrollamos un algoritmo eficiente de maximización de expectativas para determinar las estimaciones de máxima verosimilitud de los parámetros del modelo, sobre la base de datos de prueba de dispositivos de un solo disparo con múltiples modos de falla en una prueba de vida acelerada de estrés constante, con los componentes dependientes teniendo distribuciones de vida exponenciales bajo fragilidad gamma que facilita una interpretación fácilmente comprensible. También se discuten la estimación de máxima verosimilitud y los intervalos de confianza para la vida media de un dispositivo de un solo disparo estructurado -out-of- en condiciones de funcionamiento normales. Finalmente, el rendimiento de los métodos inferenciales propuestos se evalúa a través de simulaciones de Monte Carlo. Se utilizan tres ejemplos que incluyen datos de modos de falla de Clase-H, datos de ratones del experimento ED01 y datos simulados con cuatro modos de falla para ilustrar los métodos inferenciales propuestos.