Las propiedades macroscópicas de la sílice pueden ser modificadas por la presencia de modificaciones microscópicas locales a la escala de las unidades moleculares básicas (defectos puntuales). Dichos defectos pueden generarse durante la producción de vidrio, dispositivos, o por los entornos donde estos últimos deben operar, impactando en el rendimiento de los dispositivos. Por estas razones, la identificación de defectos, sus procesos de generación, y el conocimiento de sus características eléctricas y ópticas son relevantes para la microelectrónica y la optoelectrónica. El objetivo de este manuscrito es informar algunos ejemplos de cómo pueden generarse los defectos, cómo pueden impactar en el rendimiento del dispositivo, y cómo una especie de defecto o un fenómeno físico que es una desventaja en algunos campos puede ser utilizado como una ventaja en otros.