Impacto del caos en el estrés térmico y la vida útil de los MOSFET
Autores: Morel, Cristina; Morel, Jean-Yves
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Impacto del caos en el estrés térmico y la vida útil de los MOSFET
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Componentes de conmutación electrónica de potencia
Rendimiento térmico
Fenómenos de bifurcación
Caos
Temperatura de unión del MOSFET
Perfiles de misión
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 38
Citaciones: Sin citaciones
La fiabilidad de los componentes de conmutación electrónica de potencia es de gran preocupación para muchos investigadores.
Descripción
La fiabilidad de los componentes de conmutación electrónica de potencia es de gran preocupación para muchos investigadores.