Actualmente, los roles de las SSD se han diversificado significativamente. Aparte de ser utilizadas con fines de almacenamiento, los usuarios también pueden utilizar unidades flash para almacenar datos importantes en caché o para almacenar en búfer las escrituras entrantes con el fin de lograr un alto rendimiento. En este caso, el estudio de resistencia de las Unidades de Estado Sólido (SSDs) se ha convertido en un tema cada vez más importante, ya que los usuarios confían en dicha investigación para evitar de manera confiable el retiro temprano de sus antiguas unidades en computadoras portátiles o máquinas en centros de datos. Sin embargo, los fabricantes actuales adoptan indicadores de vida basados en ciclos de Programa/Borrado (P/E) para estimar la vida restante de una SSD, lo cual a menudo es demasiado conservador debido a preocupaciones de retención de datos a largo plazo. En este documento, comenzamos analizando la inexactitud y otros problemas potenciales de los indicadores de vida basados en ciclos P/E existentes para SSDs bajo cargas de trabajo orientadas a la memoria. Para construir un indicador de vida preciso, realizamos un experimento más extenso y sofisticado para agotar ocho SSDs de cuatro fabricantes diferentes. Al monitorear el estado del dispositivo extraído de los atributos estándar S.M.A.R.T. en el experimento, realizamos once hallazgos interesantes sobre la relación entre la vida útil del dispositivo y diferentes tipos de errores observados. Basándonos en nuestros hallazgos únicos, proponemos iLife, un indicador de vida basado en patrones para SSDs bajo cargas de trabajo orientadas a la memoria. Nuestra evaluación de iLife en un conjunto diferente de seis SSDs muestra que iLife es un indicador de vida más preciso, con un promedio de 14.2% de mayor precisión en la estimación de vida útil y hasta un 21.2% de extensión segura de la vida útil en comparación con los indicadores basados en ciclos P/E existentes.