Es bien sabido que las fluctuaciones en las curvas de impedancia característica obtenidas experimentalmente versus frecuencia están asociadas con resonancias originadas por ondas estacionarias que rebotan de un lado a otro entre las transiciones en las terminaciones de la línea de transmisión. De hecho, los ingenieros de microondas son conscientes de la dificultad de eliminar por completo el efecto parasitario de estas transiciones, lo que hace que obtener curvas de impedancia característica suaves y físicamente esperadas en función de la frecuencia sea una tarea difícil. Aquí señalamos por primera vez que estas curvas exhiben fluctuaciones adicionales dentro del rango de microondas debido a ondas estacionarias que tienen lugar dentro de la transición misma. La verificación experimental de este hecho se llevó a cabo extrayendo este parámetro fundamental de mediciones realizadas en líneas en chip y placas de circuito impreso (PCB) utilizando adaptadores de almohadilla de sonda y conectores coaxiales. Demostramos que el enfoque de circuito concentrado para representar las transiciones carece de validez cuando las fluctuaciones adicionales debido a los conectores se hacen evidentes, y proponemos un nuevo modelo que incluye efectos de línea de transmisión dentro de la transición.