El parámetro Flack se informa ahora casi universalmente para todos los materiales quirales caracterizados por cristalografía de rayos X. Su elegante simplicidad fue un desarrollo inspirado por Howard Flack, y aunque el algoritmo original para su cálculo ha sido fortalecido por otros investigadores, sigue siendo un resultado esencial para cualquier determinación de estructura cristalográfica. Al igual que con cualquier métrica de un solo parámetro, debe interpretarse en el contexto de su incertidumbre estándar.