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Gráfico de control de atributos np optimizado utilizando muestreo triple

Autores: Muñoz, Jose Jorge; Campuzano, Manuel J.; Mosquera, Jaime

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2022

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Acceso abierto

Artículo científico
2022

Gráfico de control de atributos np optimizado utilizando muestreo triple


Categoría

Matemáticas

Subcategoría

Matemáticas generales

Palabras clave

Gráfico de control de atributos
Muestreo triple
Longitud media de corrida
Algoritmo genético
Error tipo 2
Tasa de no conformidad

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 36

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Este documento estudia un gráfico de control de atributos para monitorear el número de artículos no conformes utilizando un muestreo triple (TS-np) que aún no se ha aplicado a gráficos de control de atributos. Se proporciona el diseño del gráfico y el procedimiento para la decisión sobre el estado del proceso. Se dan expresiones matemáticas para la longitud promedio de corrida () para procesos en control y fuera de control y el número promedio de muestra (ASN). Se implementa un algoritmo genético biobjetivo que busca minimizar el ASN y la probabilidad de error tipo 2 para optimizar el diseño del gráfico de control TS-np. Se realiza una comparación entre TS-np, muestreo simple np (SS-np), muestreo doble np (DS-np) y gráficos de control de muestreo repetitivo de estado múltiple dependiente (MDSRS) en términos de la longitud promedio de corrida fuera de control (). Se presentan tablas de valores para TS-np en comparación con MDSRS y DS-np para varios escenarios. Se muestra la operación del gráfico de control propuesto a través de datos simulados. Finalmente, se concluye que el gráfico propuesto TS-np tiene un mejor rendimiento en términos de detectar pequeños y moderados cambios en la tasa de no conformidad del proceso en control () en comparación con MDSRS y DS-np.

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