Los teléfonos inteligentes están atrayendo un interés creciente debido a cómo están revolucionando nuestras vidas. Por otro lado, las fallas de hardware y software que ocurren en ellos están continuamente presentes. Este trabajo tiene como objetivo investigar estas fallas en un teléfono inteligente típico recopilando datos de una clase de personas. Se han planteado preocupaciones que cuestionan la eficiencia de los métodos aplicados para identificar y priorizar los posibles defectos. El método de ingeniería hibridado ampliamente utilizado, Análisis de Modo y Efecto de Falla Difuso (F-FMEA), es un enfoque excelente para resolver estos problemas. El método F-FMEA se aplicó para priorizar las posibles fallas en función de su Severidad (S), Ocurrencia esperada (O) y la probabilidad de Detectabilidad (D). Después de recopilar datos de fallas de diferentes usuarios en un teléfono inteligente seleccionado, se aplicaron dos métodos de desfusificación conocidos que enfrentan el Número de Prioridad de Riesgo (RPN) en F-FMEA. A pesar de este interés, hasta donde sabemos, nadie ha estudiado las fallas de los teléfonos inteligentes con una técnica que combine los resultados de diferentes aplicaciones difusas. Por lo tanto, para combinar los resultados de los subsistemas difusos derivados para el valor promedio, sugerimos un método de desfusificación sumativa. Nuestros hallazgos indican que F-FMEA con un procedimiento de desfusificación sumativa es una clara mejora sobre el método F-FMEA. Aunque el método de suma modifica resultados cercanos al de la desfusificación, se demostró que proporciona resultados más precisos.