La confiabilidad a largo plazo de los APDs planares de difusión de tubo abierto de InGaAs/InP se investigó a través de pruebas de vida acelerada en este estudio. Para el esquema de pruebas de vida propuesto, se aplicaron simultáneamente tensiones térmicas y eléctricas para reducir los períodos de prueba manteniendo la significancia estadística. Además, se utilizó el modelo de Eyring para extrapolar la energía de activación. Para determinar las condiciones óptimas de las pruebas de vida, se llevaron a cabo pruebas de almacenamiento a alta temperatura, pruebas preliminares de vida acelerada y pruebas principales de vida acelerada. A partir de los resultados de las pruebas, se utilizó el tiempo medio hasta la falla para verificar la idoneidad del modelo de Eyring. El esquema de pruebas propuesto, que utiliza una combinación de factores de estrés acelerados, nos permite estimar la confiabilidad del dispositivo dentro de un período de prueba aceptable, minimizando el tiempo de comercialización.