Extracción y reparación de trazas de la capa F a partir de ionogramas pictóricos
Autores: Wang, Jiayi; Qiao, Lei; Yan, Chunxiao; Qiu, Zhaoyang; Wang, Kejie
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Extracción y reparación de trazas de la capa F a partir de ionogramas pictóricos
Categoría
Ciencias Naturales y Subdisciplinas
Subcategoría
Astronomía
Palabras clave
Extracción
Reparación
Ionogramas
Algoritmo
Capa F
Trazas
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 12
Citaciones: Sin citaciones
Los ionogramas disponibles públicamente a menudo están en forma de imágenes. Este artículo propone un nuevo algoritmo para extraer y reparar las trazas de la capa F a partir de ionogramas pictóricos. Se han invertido esfuerzos extensos en la autoescala de ionogramas y la identificación de parámetros críticos para mejorar la eficiencia de los algoritmos de escalado. Para obtener automáticamente los parámetros de la capa F, es necesario extraer con precisión la traza de la capa F. Sin embargo, la investigación sobre la extracción de trazas de la capa F con reparación es relativamente limitada. El método empleado en este estudio hace pleno uso de las características de diferentes tipos de ecos en los ionogramas, y el procedimiento incluye preprocesamiento de ruido, procesamiento de ruido acoplado y reparación de trazas. Para mejorar la aplicabilidad de la reparación, se adoptan dos algoritmos de llenado automático diferentes para reparar la traza de la capa F. El objetivo de este artículo es presentar un algoritmo adaptativo para extraer y reparar automáticamente las trazas de la capa F a partir de diferentes ionogramas pictóricos. Los resultados de los ionogramas de Hainan Fuke ilustran la fiabilidad de la extracción de trazas de la capa F y la reparación de trazas.
Descripción
Los ionogramas disponibles públicamente a menudo están en forma de imágenes. Este artículo propone un nuevo algoritmo para extraer y reparar las trazas de la capa F a partir de ionogramas pictóricos. Se han invertido esfuerzos extensos en la autoescala de ionogramas y la identificación de parámetros críticos para mejorar la eficiencia de los algoritmos de escalado. Para obtener automáticamente los parámetros de la capa F, es necesario extraer con precisión la traza de la capa F. Sin embargo, la investigación sobre la extracción de trazas de la capa F con reparación es relativamente limitada. El método empleado en este estudio hace pleno uso de las características de diferentes tipos de ecos en los ionogramas, y el procedimiento incluye preprocesamiento de ruido, procesamiento de ruido acoplado y reparación de trazas. Para mejorar la aplicabilidad de la reparación, se adoptan dos algoritmos de llenado automático diferentes para reparar la traza de la capa F. El objetivo de este artículo es presentar un algoritmo adaptativo para extraer y reparar automáticamente las trazas de la capa F a partir de diferentes ionogramas pictóricos. Los resultados de los ionogramas de Hainan Fuke ilustran la fiabilidad de la extracción de trazas de la capa F y la reparación de trazas.