El Evento Funcional de Interrupción Única (SEFI) representa una grave amenaza para el funcionamiento normal de las naves espaciales. Este documento investiga el SEFI en Convertidores Analógico-Digitales (ADCs) con unidades de almacenamiento utilizando la posición de precisión de láseres pulsados. Según el experimento, se descubrió que un cambio de bit en los registros de configuración en los ADCs resulta en cambios en parámetros como la frecuencia del filtro digital, el modo de operación y la ganancia, lo que lleva a un desplazamiento hacia arriba o hacia abajo de los códigos de salida del ADC. De manera similar, un cambio de bit en los registros de calibración también provoca que los códigos de salida del ADC se desplacen hacia arriba o hacia abajo, o incluso que emitan un valor de cero. Además, se observó que los fenómenos SEFI pueden ocurrir debido a una inmovilización de corriente en los pines de entrada del ADC, lo que causa la incapacidad de leer o escribir datos en las unidades de almacenamiento del ADC. Esta inmovilización de corriente puede resolverse mediante el ciclo de energía o configurando los pines en un estado de alta impedancia. Este trabajo destaca la importancia de los fenómenos SEFI en los ADCs, enfatizando la grave amenaza que representa el SEFI inducido por el cambio de unidades de almacenamiento para el correcto funcionamiento de los ADCs. Además, el fenómeno SEFI causado por la inmovilización de corriente en los pines de entrada es difícil de detectar en la práctica, lo que lo hace altamente elusivo. Una vez que ocurre, impacta severamente la funcionalidad de los ADCs.