En este documento, se realiza un análisis de variación temporal sobre Transitorios de Evento Único (SETs) en osciladores de anillo CMOS integrados. La Función Sensible al Impulso (ISF) del oscilador se utiliza para analizar el impacto del momento relativo en que una partícula golpea el circuito. El análisis se basa en simulaciones y se verifica experimentalmente con una configuración láser de Absorción de Dos Fotones (TPA). Los experimentos se realizan utilizando un chip de prueba CMOS de 65 nm.