Evaluación del panel Flourish para el diagnóstico de fallas consciente del contexto en las fábricas inteligentes de la Industria 4.0
Autores: Kaupp, Lukas; Nazemi, Kawa; Humm, Bernhard
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Evaluación del panel Flourish para el diagnóstico de fallas consciente del contexto en las fábricas inteligentes de la Industria 4.0
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Sistemas ciberfísicos
Líneas de producción
Diagnóstico de fallas consciente del contexto
TAOISM
Panel Flourish
Industria 4.0.
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 26
Citaciones: Sin citaciones
Los sistemas ciberfísicos se vuelven más complejos, con ello las líneas de producción se vuelven más complejas en la fábrica inteligente. Cada sistema empleado produce grandes cantidades de datos con dependencias y relaciones desconocidas, lo que hace que el razonamiento de incidentes sea difícil. El diagnóstico de fallos consciente del contexto puede desvelar dichas relaciones en diferentes niveles. Una aplicación de diagnóstico de fallos se vuelve consciente del contexto cuando la situación actual de producción se utiliza en el proceso de razonamiento.
Descripción
Los sistemas ciberfísicos se vuelven más complejos, con ello las líneas de producción se vuelven más complejas en la fábrica inteligente. Cada sistema empleado produce grandes cantidades de datos con dependencias y relaciones desconocidas, lo que hace que el razonamiento de incidentes sea difícil. El diagnóstico de fallos consciente del contexto puede desvelar dichas relaciones en diferentes niveles. Una aplicación de diagnóstico de fallos se vuelve consciente del contexto cuando la situación actual de producción se utiliza en el proceso de razonamiento.