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Evaluación del panel Flourish para el diagnóstico de fallas consciente del contexto en las fábricas inteligentes de la Industria 4.0

Autores: Kaupp, Lukas; Nazemi, Kawa; Humm, Bernhard

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2022

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Acceso abierto

Artículo científico
2022

Evaluación del panel Flourish para el diagnóstico de fallas consciente del contexto en las fábricas inteligentes de la Industria 4.0


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Sistemas ciberfísicos
Líneas de producción
Diagnóstico de fallas consciente del contexto
TAOISM
Panel Flourish
Industria 4.0.

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 26

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Los sistemas ciberfísicos se vuelven más complejos, con ello las líneas de producción se vuelven más complejas en la fábrica inteligente. Cada sistema empleado produce grandes cantidades de datos con dependencias y relaciones desconocidas, lo que hace que el razonamiento de incidentes sea difícil. El diagnóstico de fallos consciente del contexto puede desvelar dichas relaciones en diferentes niveles. Una aplicación de diagnóstico de fallos se vuelve consciente del contexto cuando la situación actual de producción se utiliza en el proceso de razonamiento.

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