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Evaluación de la inmunidad de la tarjeta de identificación sin contacto contra un pulso de corriente en un conductor adyacente

Autores: Vestenický, Peter; Hrubo, Marián; Kolla, Eduard

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Evaluación de la inmunidad de la tarjeta de identificación sin contacto contra un pulso de corriente en un conductor adyacente


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Análisis
Chip de identificación
Tipo Mifare
Campo magnético
Pulso de corriente
Daño
Características del chip

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 47

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Este documento analiza la posibilidad de dañar y destruir un chip de identificación del tipo Mifare en una tarjeta de identificación sin contacto de uso frecuente de tamaño ID-1, siguiendo el estándar ISO/IEC 7810 (es decir, con dimensiones de 85.60 x 53.98 x 0.76 mm), utilizando el campo magnético de un conductor adyacente por el cual fluye un pulso de corriente de forma y amplitud definidas. Con fines de análisis, se midió y aproximó la característica no lineal corriente-voltaje del limitador de voltaje del chip Mifare, y se calculó la inductancia mutua del conductor recto y la antena de bobina rectangular en la tarjeta. Luego, se realizó un análisis matemático basado en la descripción del circuito eléctrico equivalente mediante ecuaciones diferenciales. Los resultados del análisis matemático fueron verificados mediante una simulación en el software de simulación gratuito Micro-Cap 12. El valor pico del pulso de corriente que puede dañar el chip Mifare fue medido por un generador de ondas de combinación. Basándose en estas mediciones y las características del chip, se calculó la energía capaz de destruir el chip. Las características del daño del chip se determinaron mediante una comparación de las características resonantes de tarjetas RFID no dañadas y dañadas con chips Mifare.

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