Estudio de evento único transitorio de la tecnología UTBB-FDSOI de 28 nm utilizando mapeo láser pulsado
Autores: Chen, Rui; Chen, Li; Li, Sai; Liu, Rui; Li, Xuantian; Shi, Shuting; Gu, Cheng; Han, Jianwei
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Estudio de evento único transitorio de la tecnología UTBB-FDSOI de 28 nm utilizando mapeo láser pulsado
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Error suave inducido por transitorios de evento único
Sistemas electrónicos
Espacio
Tecnologías avanzadas
Técnicas de mitigación de transitorios de evento único
Efecto de ampliación de pulso
Circuitos lógicos
Distribución de regiones sensibles a transitorios de evento único
Técnica de mapeo con láser pulsado
Tecnología FDSOI Ultra-Thin Body and BOX (UTBB) de 28 nm
Laboratorio de Investigación Naval (NRL)
Frecuencias de reloj
Niveles de energía láser
Circuitos lógicos combinatorios
Tasa de error de flip-flop
Cadena de compuertas OR
Resultados de simulación
Mecanismo.
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 22
Citaciones: Sin citaciones
Los errores suaves inducidos por transitorios de un solo evento (SET) se están convirtiendo en una amenaza más significativa para la fiabilidad de los sistemas electrónicos en el espacio, especialmente para tecnologías avanzadas.
Descripción
Los errores suaves inducidos por transitorios de un solo evento (SET) se están convirtiendo en una amenaza más significativa para la fiabilidad de los sistemas electrónicos en el espacio, especialmente para tecnologías avanzadas.