Debido a la alta confiabilidad de los medidores actuales, es difícil obtener el tiempo de falla de los medidores a través de pruebas de vida acelerada. Basándose en los datos de falla de la prueba de vida acelerada, este artículo estudia el modelo matemático basado en el proceso de Wiener y establece el modelo de degradación del instrumento mediante la máxima verosimilitud para estimar los parámetros del modelo de Wiener. Con plena consideración de los posibles efectos no lineales en la modelización, se utiliza el método de transformación de escala de tiempo para estudiar y obtener el modelo de predicción de vida de confiabilidad de los medidores inteligentes basado en datos no lineales. Finalmente, el modelo de predicción de vida de confiabilidad de los medidores se verifica y evalúa a través de los datos de ejemplo de la prueba de vida acelerada de los medidores inteligentes. En comparación con el método convencional, este método tiene menos error al calcular la confiabilidad, ahorra mucho tiempo de prueba y tiene una precisión mayor que estimar el modelo de tiempo de vida utilizando el proceso de Wiener directamente.