Un estudio de los factores de riesgo asociados con el fracaso temprano y el efecto de la fotofuncionalización en el tratamiento de carga inmediata de arco completo basado en el concepto de All-on-Four
Autores: Uesugi, Takashi; Shimoo, Yoshiaki; Munakata, Motohiro; Kataoka, Yu; Sato, Daisuke; Yamaguchi, Kikue; Sanda, Minoru; Fujimaki, Michiya; Nakayama, Kazuhisa; Watanabe, Tae; Malo, Paulo
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Un estudio de los factores de riesgo asociados con el fracaso temprano y el efecto de la fotofuncionalización en el tratamiento de carga inmediata de arco completo basado en el concepto de All-on-Four
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Bioingeniería
Palabras clave
Fracaso del implante
Fracaso temprano
Concepto de todo en cuatro
Fotofuncionalización
Tasa de supervivencia
Factores de riesgo
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 32
Citaciones: Sin citaciones
La tasa de supervivencia a un año después de la implantación fue del 97,1% (nivel de paciente) y del 98,9% (nivel de implante) para la maxila y del 98,5% (nivel de paciente) y del 99,6% (nivel de implante) para la mandíbula.
Descripción
La tasa de supervivencia a un año después de la implantación fue del 97,1% (nivel de paciente) y del 98,9% (nivel de implante) para la maxila y del 98,5% (nivel de paciente) y del 99,6% (nivel de implante) para la mandíbula.