Estudio experimental sobre la confiabilidad de embalaje electrónico PBGA bajo carga de choque
Autores: Shao, Jiang; Zhang, Hongjian; Chen, Bo
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Estudio experimental sobre la confiabilidad de embalaje electrónico PBGA bajo carga de choque
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Plástico ball grid array
Empaquetado electrónico
Ensamblajes pbga
Pruebas de choque
Vida útil de fatiga
Juntas de soldadura
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 30
Citaciones: Sin citaciones
El ensamblaje de matriz de rejilla de bolas de plástico (PBGA), uno de los métodos de empaquetado electrónico más importantes, se utiliza ampliamente en el campo de la industria aeronáutica. Según la norma JEDEC, se realizan pruebas de choque de los ensamblajes PBGA bajo diferentes condiciones de carga. Varios parámetros importantes, como la vida útil de los ensamblajes PBGA, la relación entre las posiciones de las juntas de soldadura y la vida útil, la relación entre la densidad de energía de deformación y la vida útil, se analizan en base a los resultados experimentales. Los modos de fallo de los ensamblajes PBGA se estudian mediante microscopio óptico (OM). Los resultados muestran que durante las pruebas de choque, las tensiones de las juntas de soldadura cerca del centro de la muestra son mayores que en otras posiciones, y estas juntas de soldadura tienden a formar micro grietas. Con el aumento de los choques, estas micro grietas se extienden rápidamente, lo que eventualmente causará el fallo del empaquetado electrónico PBGA.
Descripción
El ensamblaje de matriz de rejilla de bolas de plástico (PBGA), uno de los métodos de empaquetado electrónico más importantes, se utiliza ampliamente en el campo de la industria aeronáutica. Según la norma JEDEC, se realizan pruebas de choque de los ensamblajes PBGA bajo diferentes condiciones de carga. Varios parámetros importantes, como la vida útil de los ensamblajes PBGA, la relación entre las posiciones de las juntas de soldadura y la vida útil, la relación entre la densidad de energía de deformación y la vida útil, se analizan en base a los resultados experimentales. Los modos de fallo de los ensamblajes PBGA se estudian mediante microscopio óptico (OM). Los resultados muestran que durante las pruebas de choque, las tensiones de las juntas de soldadura cerca del centro de la muestra son mayores que en otras posiciones, y estas juntas de soldadura tienden a formar micro grietas. Con el aumento de los choques, estas micro grietas se extienden rápidamente, lo que eventualmente causará el fallo del empaquetado electrónico PBGA.