Prueba de dosis total de ionización a nivel de sistema de subsistemas de satélites: estudio de caso de microsatélite EagleEye
Autores: Rajkowski, Tomasz; Pustuka, Przemysaw; Bieda, Marcin; lasa, Sylwia; Kazaniecki, Micha; Myszka, Kamil; Szczygielski, Mateusz; Iwaszkiewicz, Jarosaw; Traczyk, Konrad; Tarenko, Kamil; Hoownia, Adam; adno, Micha; Binczyk, Piotr; Wasilewski, Szymon; Mazur, Marcin; Zawistowski, Tomasz; Uznanski, Sawosz; Kosinski, Tymoteusz; Chabera, Mariusz; Mazurek, Krzysztof; Klimaszewski, Jan; Wasilewski, Adam; Matus
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Prueba de dosis total de ionización a nivel de sistema de subsistemas de satélites: estudio de caso de microsatélite EagleEye
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Subsystems de satélites
Pruebas a nivel de sistema
Rayos X de alta energía
Subsistemas clave
Pruebas de dosis total de ionización
Condiciones de prueba
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 31
Citaciones: Sin citaciones
Se discute un método de prueba de dosis total de ionización a nivel de sistema de subsistemas de satélites en el contexto de la calificación de radiación de un satélite. Las pruebas a nivel de sistema se realizan con rayos X de alta energía, y se presentan y analizan los resultados de irradiación de los subsistemas clave, incluido el ordenador a bordo, el ordenador del sistema de control de actitud y órbita, y el sistema de gestión de baterías, en términos de repetibilidad de los resultados, problemas de observabilidad y la importancia de las condiciones de prueba. Además, se discuten los principales beneficios de las pruebas de dosis total de ionización a nivel de sistema de los subsistemas dados, así como los riesgos relacionados con la realización de pruebas a nivel de sistema.
Descripción
Se discute un método de prueba de dosis total de ionización a nivel de sistema de subsistemas de satélites en el contexto de la calificación de radiación de un satélite. Las pruebas a nivel de sistema se realizan con rayos X de alta energía, y se presentan y analizan los resultados de irradiación de los subsistemas clave, incluido el ordenador a bordo, el ordenador del sistema de control de actitud y órbita, y el sistema de gestión de baterías, en términos de repetibilidad de los resultados, problemas de observabilidad y la importancia de las condiciones de prueba. Además, se discuten los principales beneficios de las pruebas de dosis total de ionización a nivel de sistema de los subsistemas dados, así como los riesgos relacionados con la realización de pruebas a nivel de sistema.