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Investigación de formación de defectos en islas integradas monolíticas de GaP en obleas de nanopunta de Si

Autores: Häusler, Ines; epa, Rostislav; Hammud, Adnan; Skibitzki, Oliver; Hatami, Fariba

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Investigación de formación de defectos en islas integradas monolíticas de GaP en obleas de nanopunta de Si


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Integración monolítica
Fosfuro de galio
Sustratos de Si
Optoelectrónica
Defectos
Microscopía electrónica de transmisión de barrido

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 42

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
La integración monolítica de fosfuro de galio (GaP), con su brecha de banda verde, alto índice de refracción, gran no linealidad óptica y amplio rango de transmisión en sustratos de silicio (Si), es crucial para la optoelectrónica basada en Si y la fotónica integrada.

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