Investigación de formación de defectos en islas integradas monolíticas de GaP en obleas de nanopunta de Si
Autores: Häusler, Ines; epa, Rostislav; Hammud, Adnan; Skibitzki, Oliver; Hatami, Fariba
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Investigación de formación de defectos en islas integradas monolíticas de GaP en obleas de nanopunta de Si
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Integración monolítica
Fosfuro de galio
Sustratos de Si
Optoelectrónica
Defectos
Microscopía electrónica de transmisión de barrido
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 42
Citaciones: Sin citaciones
La integración monolítica de fosfuro de galio (GaP), con su brecha de banda verde, alto índice de refracción, gran no linealidad óptica y amplio rango de transmisión en sustratos de silicio (Si), es crucial para la optoelectrónica basada en Si y la fotónica integrada.
Descripción
La integración monolítica de fosfuro de galio (GaP), con su brecha de banda verde, alto índice de refracción, gran no linealidad óptica y amplio rango de transmisión en sustratos de silicio (Si), es crucial para la optoelectrónica basada en Si y la fotónica integrada.