Investigación cuantitativa sobre modelado lineal generalizado de SEU y programas de prueba basados en datos de muestra pequeños
Autores: Chu, Fei; Chen, Hongzhuan; Yu, Chunqing; You, Lihua; Wang, Liang; Liu, Yun
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Investigación cuantitativa sobre modelado lineal generalizado de SEU y programas de prueba basados en datos de muestra pequeños
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Circuitos integrados complejos
Efecto de evento único
Programas de prueba
Sección transversal de error suave
Modelo lineal generalizado
Rendimiento
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 26
Citaciones: Sin citaciones
Los circuitos integrados complejos (ICs) tienen funciones complejas y varios modos de funcionamiento, que tienen muchos factores que afectan el rendimiento de un solo evento.
Descripción
Los circuitos integrados complejos (ICs) tienen funciones complejas y varios modos de funcionamiento, que tienen muchos factores que afectan el rendimiento de un solo evento.