La adquisición de parámetros dinámicos del convertidor analógico-digital (ADC) se está volviendo cada vez más relevante a medida que la información electrónica se desarrolla a un ritmo acelerado. El desafío fundamental de la prueba de espectro para ADC es que la muestreo coherente es difícil de lograr, especialmente debido a la alta precisión de la señal de excitación necesaria para el muestreo coherente. Por lo tanto, el muestreo incoherente es ciertamente inevitable en la prueba real. Si no se cumple la condición de muestreo coherente en la prueba, el espectro se filtra de los datos de prueba después del análisis de la Transformada Discreta de Fourier (DFT), lo que resulta en parámetros inexactos. En este estudio, se presentó un nuevo método de descomposición y reconstrucción utilizando la Descomposición Modal Empírica de Conjunto (EEMD); el método de transformada de Hilbert y ajuste de parámetros pueden estimar con precisión las ondas fundamentales e armónicas incoherentes, luego reconstruirlas para obtener parámetros dinámicos de ADC precisos.