A menudo toma mucho tiempo realizar estudios de vida en productos o componentes. Las unidades pueden ser probadas bajo circunstancias más severas de lo habitual, conocidas como pruebas de vida acelerada, para reducir el período de prueba. El objetivo de este estudio es investigar ciertos problemas de estimación relacionados con estimaciones de punto e intervalo para la distribución de XLindley bajo pruebas de vida acelerada parcial con muestras censuradas de tipo II progresivas. Se utiliza el enfoque de máxima verosimilitud para obtener las estimaciones de punto e intervalo de los parámetros del modelo, así como la función de confiabilidad bajo condiciones de uso normal. También se proporciona el método de estimación bayesiana utilizando el procedimiento de Cadena de Markov Monte Carlo con la función de pérdida de error cuadrado. Además, se consideran los intervalos creíbles bayesianos, así como los intervalos creíbles de densidad posterior más alta de los diferentes parámetros. Para comparar entre los métodos propuestos, se realiza un estudio de simulación con diferentes tamaños de muestra y esquemas de censura diferentes. La utilidad de las metodologías sugeridas se demuestra luego mediante el análisis de dos conjuntos de datos. Un resumen de los principales hallazgos del estudio se puede encontrar en la conclusión.