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La estimación de defectos en pruebas no destructivas de compuestos mediante ondas guiadas por ultrasonidos y procesamiento de imágenes

Autores: Tiwari, Kumar Anubhav; Raisutis, Renaldas; Tumsys, Olgirdas; Ostreika, Armantas; Jankauskas, Kestutis; Jakutavicius, Julijus

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2019

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Acceso abierto

Artículo científico
2019

La estimación de defectos en pruebas no destructivas de compuestos mediante ondas guiadas por ultrasonidos y procesamiento de imágenes


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Estimación
Defectos
Ultrasónico
Procesamiento de imágenes
Tamaño
Ubicación

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 30

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
La estimación del tamaño y la ubicación de defectos en estructuras compuestas de múltiples capas mediante ensayos no destructivos ultrasónicos utilizando ondas guiadas ha atraído la atención de los investigadores durante las últimas décadas. Aunque existen técnicas extensas de procesamiento de señales, solo hay algunos estudios disponibles basados en el procesamiento de imágenes de la imagen de ultrasonido B-Scan para extraer el tamaño y la ubicación de defectos a través del proceso de ensayo no destructivo ultrasónico. Este trabajo presenta una técnica de procesamiento de imágenes para imágenes de ultrasonido B-Scan para mejorar la estimación de la ubicación y el tamaño de defectos tipo desprendimiento en materiales plásticos reforzados con fibra de vidrio con diámetros de 25 mm y 51 mm. La muestra es un segmento de una pala de turbina eólica con un grosor variable que va desde 3 hasta 24 mm. El experimento se realiza utilizando un sistema ultrasónico de baja frecuencia y un par de transductores piezoeléctricos de tipo contacto separados por una distancia de 50 mm y embebidos en un panel mecánico móvil. La imagen B-Scan adquirida mediante la técnica de emisión-recepción ultrasónica se des ruidiza utilizando características de la transformada wavelet discreta bidimensional. Posteriormente, las densidades de píxeles normalizadas se comparan a lo largo de la distancia escaneada en la región de interés de la imagen, y se aplica un umbral de -3 dB a las ubicaciones y tamaños de los defectos en el dominio espacial.

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