Este breve documento muestra que un comportamiento caótico robusto puede ser detectado dentro de un oscilador de transistor de una sola etapa sintonizado por colector. El contenido de este trabajo también contribuye al problema de la localización del caos en un modelo matemático simplificado de un bloque de construcción analógico estándar. La búsqueda de caos se realiza a través de una rutina de optimización numérica aplicada al esquema principal del oscilador donde el transistor bipolar generalizado se modela como un dispositivo de dos puertos descrito por una matriz de impedancia y admitancia. En ambos casos, la presencia de un atractor caótico denso se demuestra mediante el cálculo del exponente de Lyapunov más grande, mientras que su estabilidad estructural se valida mediante una medición real, es decir, la visualización de capturas de pantalla del osciloscopio capturadas.