Este documento trata sobre las características de estabilidad de los ceros para modelos de datos muestreados con una clase de muestreo triangular realizado por un retención de orden cero tradicional. Para cualquier modelo controlado en el sistema industrial moderno, se ha demostrado que el uso de una estrategia de control digital proporciona los medios para alcanzar los objetivos asignados. En este proceso, se debe utilizar el dispositivo de muestreo y retención para obtener los modelos de datos muestreados. Estudios previos han mostrado que el muestreo triangular puede mejorar las propiedades de estabilidad de los ceros de un sistema de control de datos muestreados en comparación con la retención de orden cero. Sin embargo, es difícil utilizar el muestreo triangular en la práctica. En este documento, se propone un método aproximado para utilizar el muestreo triangular. Más importante aún, sobre la base de ese método, derivamos explícitamente el modelo de datos muestreados correspondiente de los modelos controlados. Además, también proporcionamos la expresión para los ceros de muestreo y el teorema para la estabilidad de un sistema de control lineal en el proceso de muestreo rápido. Los resultados de este documento muestran que el método propuesto tiene las mismas ventajas que el método preciso. Finalmente, los hallazgos teóricos se validan a través de simulaciones numéricas con diferentes consideraciones.