Esquema de muestreo de deformación de campo cercano para caracterización de antenas de lado ancho
Autores: Maisto, Maria Antonia; Pierri, Rocco; Solimene, Raffaele
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Esquema de muestreo de deformación de campo cercano para caracterización de antenas de lado ancho
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Campo irradiado
Fuente planar
Campo cercano
Posiciones de medición espacial
Operador de radiación
Teorema de muestreo
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 34
Citaciones: Sin citaciones
En este documento se aborda el problema de muestrear el campo radiado por una fuente plana observada sobre una apertura plana finita ubicada en el campo cercano. El problema se plantea como la determinación de las posiciones de medición espacial que nos permiten discretizar el problema de radiación de manera que los valores singulares del operador de radiación estén bien aproximados.
Descripción
En este documento se aborda el problema de muestrear el campo radiado por una fuente plana observada sobre una apertura plana finita ubicada en el campo cercano. El problema se plantea como la determinación de las posiciones de medición espacial que nos permiten discretizar el problema de radiación de manera que los valores singulares del operador de radiación estén bien aproximados.