Endure la protección de circuitos de grano fino a través de la sustitución de tipos de datos VHDL
Autores: Muñoz-Quijada, Maria; Sanchez-Barea, Samuel; Vela-Calderon, Daniel; Guzman-Miranda, Hipolito
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2018
Acceso abierto
Artículo científico
2018
Endure la protección de circuitos de grano fino a través de la sustitución de tipos de datos VHDL
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Efectos de radiación
Errores lógicos
Circuitos digitales
Redundancia Modular Triple
Endurecimiento selectivo
Lenguaje VHDL
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 39
Citaciones: Sin citaciones
Los efectos de la radiación pueden inducir, entre otros fenómenos, errores lógicos en circuitos y sistemas digitales. Estos errores lógicos corrompen los estados de los elementos de memoria interna de los circuitos y pueden propagarse a las salidas principales, afectando a otros sistemas integrados.
Descripción
Los efectos de la radiación pueden inducir, entre otros fenómenos, errores lógicos en circuitos y sistemas digitales. Estos errores lógicos corrompen los estados de los elementos de memoria interna de los circuitos y pueden propagarse a las salidas principales, afectando a otros sistemas integrados.