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Emi susceptibilidad del pin de salida en amplificadores CMOS

Autores: Richelli, Anna; Colalongo, Luigi; Kovacs-Vajna, Zsolt

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2020

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Acceso abierto

Artículo científico
2020

Emi susceptibilidad del pin de salida en amplificadores CMOS


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Susceptibilidad
Amplificadores operacionales
Interferencias electromagnéticas
Impedancia de salida
Simulaciones
Tecnología CMOS

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 25

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Las mediciones en dispositivos comerciales muestran una considerable susceptibilidad de los amplificadores operacionales a las interferencias electromagnéticas acopladas a su pin de salida. Este documento investiga algunas arquitecturas básicas, desde amplificadores de una sola etapa hasta un amplificador operacional completo. El resultado es una correlación entre las diferentes configuraciones de amplificador, la impedancia de salida y la susceptibilidad a las interferencias. Las simulaciones se realizan utilizando la tecnología estándar CMOS UMC de 180 nm y ejecutando el netlist de los esquemáticos extraídos del diseño.

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