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El problema de la metrización en la topología de [0,1]

Autores: Chen, Peng

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

El problema de la metrización en la topología de [0,1]


Categoría

Matemáticas

Subcategoría

Matemáticas generales

Palabras clave

Clasificación
Métricas difusas
Condiciones de continuidad
Erceg
Deng
Shi

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 35

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Este documento discute la clasificación de métricas difusas basadas en sus condiciones de continuidad, dividiéndolas en métricas de Erceg, Deng, Shi y Chen. Explora las relaciones entre estos tipos de métricas difusas, concluyendo que una métrica de Deng en -topología también debe ser métricas de Erceg, Chen y Shi. Este documento también demuestra que el producto de un número contable de espacios pseudo-métricos de Deng sigue siendo un espacio pseudo-métrico de Deng, y demuestra algunas propiedades -localmente finitas del espacio métrico de Deng. Además, este documento construye dos mapeos interrelacionados basados en un espacio normal y concluye que, si un espacio -topológico es y regular, y su topología tiene una base -localmente finita, entonces es Deng-metrizable, y por lo tanto también Erceg-, Shi- y Chen-metrizable.

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