El problema de la metrización en la topología de [0,1]
Autores: Chen, Peng
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
El problema de la metrización en la topología de [0,1]
Categoría
Matemáticas
Subcategoría
Matemáticas generales
Palabras clave
Clasificación
Métricas difusas
Condiciones de continuidad
Erceg
Deng
Shi
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 35
Citaciones: Sin citaciones
Este documento discute la clasificación de métricas difusas basadas en sus condiciones de continuidad, dividiéndolas en métricas de Erceg, Deng, Shi y Chen. Explora las relaciones entre estos tipos de métricas difusas, concluyendo que una métrica de Deng en -topología también debe ser métricas de Erceg, Chen y Shi. Este documento también demuestra que el producto de un número contable de espacios pseudo-métricos de Deng sigue siendo un espacio pseudo-métrico de Deng, y demuestra algunas propiedades -localmente finitas del espacio métrico de Deng. Además, este documento construye dos mapeos interrelacionados basados en un espacio normal y concluye que, si un espacio -topológico es y regular, y su topología tiene una base -localmente finita, entonces es Deng-metrizable, y por lo tanto también Erceg-, Shi- y Chen-metrizable.
Descripción
Este documento discute la clasificación de métricas difusas basadas en sus condiciones de continuidad, dividiéndolas en métricas de Erceg, Deng, Shi y Chen. Explora las relaciones entre estos tipos de métricas difusas, concluyendo que una métrica de Deng en -topología también debe ser métricas de Erceg, Chen y Shi. Este documento también demuestra que el producto de un número contable de espacios pseudo-métricos de Deng sigue siendo un espacio pseudo-métrico de Deng, y demuestra algunas propiedades -localmente finitas del espacio métrico de Deng. Además, este documento construye dos mapeos interrelacionados basados en un espacio normal y concluye que, si un espacio -topológico es y regular, y su topología tiene una base -localmente finita, entonces es Deng-metrizable, y por lo tanto también Erceg-, Shi- y Chen-metrizable.